高电平宽度偏少几个计数，最常见原因是输入滤波器的采样延迟与边沿检测的同步延迟叠加。STM32的TI输入经ETR/IC滤波时，滤波器以fDTS采样，需连续N个有效采样才确认边沿，这会把上升沿和下降沿都“推迟”约N个采样周期；若滤波参数较大，捕获到的上升沿偏晚、下降沿也偏晚，但两者延迟相同，理论上宽度不变。真正导致宽度变窄的是：上升沿被延迟后，下降沿在计数器已停止/复位前被捕获，或CCR读取与更新事件竞争。更典型的是输入滤波+采样造成的边沿抖动被滤除时，窄脉冲被削掉。排查建议：1)将IC滤波设为0（ICF=0）对比；2)确认捕获极性为上升/下降分别捕获，而非单边沿；3)检查是否用了从模式复位，复位会截断高电平；4)用DMA或双通道分别记录上升/下降CCR值，避免中断延迟；5)提高fDTS或降低滤波N值，观察偏差是否随滤波参数线性变化，即可定位。