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2025-5-9 08:59:38
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(
图:ST官方实验室辐射抗扰度测试场景,3m法半电波暗室
)
关键数据披露
:
静电抗扰度
:接触放电±8kV(IEC 61000-4-2标准)下无复位
辐射抗扰度
:在10V/m 80MHz-1GHz场强下,CAN通信误码率<1e-6
快速脉冲群
:±4kV测试中,ADC采样偏差<0.5%(对比前代H7提升3倍)
工业设计建议
:
PCB布局需注意:
1.
晶体振荡器周围保留≥3mm净空区
2.
所有IO口串联22Ω电阻(抑制高频振铃)
官方参考设计下载:
ST UM3042手册
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